MOS管相比於三極管，開關速度快，導通電壓低，電壓驅動簡單，所以越來越受工程師的喜歡，然而，若不當設計，哪怕是小功率MOS管，也會導致芯片燒壞，原本想著更簡單的，最後變得更加複雜。這幾年來一直做高頻電源設計，也涉及嵌入式開發，對大小功率MOS管，都有一定的理解，所以把心中理解的經驗總結一番，形成理論模型。MOS管等效電路及應用電路如下圖所示：
把MOS管的微觀模型疊加起來，就如下圖所示：
我們知道，MOS管的輸入與輸出是相位相反，恰好180度，也就是等效於一個反相器，也可以理解為一個反相工作的運放，如下圖：
有了以上模型，就好辦了，尤其從運放這張圖中，可以一眼看出，這就是一個反相積分電路，當輸入電阻較大時，開關速度比較緩慢，Cgd這顆積分電容影響不明顯，但是當開關速度比較高，而且VDD供電電壓比較高，比如310V下，通過Cgd的電流比較大，強的積分很容易引起振盪，這個振盪叫米勒振盪。所以Cgd也叫米勒電容，而在MOS管開關導通或者關斷的那段時間，也就是積分那段時間，叫米勒平臺，如下圖圓圈中的那部分為米勒平臺，右邊的是振盪嚴重的米勒振盪：
因為MOS管的反饋引入了電容，當這個電容足夠大，並且前段信號變化快，後端供電電壓高，三者結合起來，就會引起積分過充振盪，這個等價於溫控的PID中的I模型，要想解決解決這個米勒振盪，在頻率和電壓不變的情況下，一般可以提高MOS管的驅動電阻，減緩開關的邊沿速度，其次比較有效的方式是增加Cgs電容。在條件允許的情況下，可以在Cds之間並上低內阻抗衝擊的小電容，或者用RC電路來做吸收電路。下圖給出我常用的三顆大功率MOS管的電容值：LCR電橋直接測量
從圖上可以看出，Inifineon6代MOS管和APT7代MOS管性能遠遠不如碳化硅性能，它的各個指標都很小，當米勒振盪通過其他手段無法降低時，可以考慮更換更小的米勒電容MOS管，尤其需要重視Cgd要儘可能的小於Cgs。