古玉學步（173）：浮雕谷紋辨真假 只有真谷發古芽

高價買入、隨身佩戴、喜愛有加的“古玉璧”（圖1，以下簡稱“辨賞件”），左看右看都可意，真古還是假仿？

圖1

看上去穀粒飽滿挺括，地子打磨砂痕歷歷，谷尾巴陰刻接刀，還帶一層淺淺的灰，應該真阿，總不能仿吧。

辨賞件為戰漢浮雕谷紋，則選一相類館藏做參照分析。徐州博物館藏獅子山漢墓出土白玉谷紋璧（圖2，以下簡稱“館藏品”）。

圖2

谷紋盛行於戰國中晚期，延至西漢。谷紋是從雲谷相雜紋獨立而出的紋飾題材，因為形似穀物發芽而得名。谷紋分為浮雕谷紋和線刻谷紋兩類，多以比較整齊的排列裝飾器面。

一般浮雕谷紋的製作工序大約分為三個步驟：首先以砣具雕琢三對平行線定位，其次在已經形成的六角形周邊減地成為圓形凸粒，最後將圓形凸粒再雕琢成圓卷狀的谷紋。

以此工藝特徵為基礎，略作工痕對比分析如下：

（1）三對平行線定位特徵

三對平行線界定了穀粒的位置，古工是嚴格如此操作的，所以不會偏離走位，但是仿工由於工具差別的原因就不會如此嚴格工藝了，不建議間會發生位置偏移。

館藏品嚴格的定位特徵（圖3-1）：基本中規中矩，都在定位線以內。

圖3-1

辨賞件的定位效果（圖3-2）：不好意思，一不小心就常常跑出界，太貪玩了。

圖3-2

（2）砣具減地痕跡特徵

由於用砣具減地形成圓形凸粒，所以地子不是平面的，如果側光看到地子無規則的波浪起伏，後期打磨偶爾會留下一些小“高地”——三個一組的圓形凸粒之間，隱約殘存“三對平行線定位”時所留下的三角形小凸點。

館藏品谷紋地子的特徵（圖4-1）：地子波浪起伏和三谷之間隱隱約約的小高點。

圖4-1

辨賞件谷紋地子的特徵（圖4-2）：地子相對平滑，三谷之間或侷促或疏隔，沒規矩。

圖4-2

很顯然，館藏谷紋地子的特徵全部展現了，而賞件谷紋地子不具備古砣具那樣的減地波浪特徵，其表面的砂痕是後期手工打磨的仿痕所在。

再選用反映谷紋減地特徵詮釋比較清楚的教學圖片，加深理解（圖5）。

圖5-1

圖5-2

（3）穀粒參差不齊特徵

古工砣具很難保持同一操作標準，所以形成穀粒的大小、高低、圓潤度等有所差別，但又風格一致差別不太過分。仿工多為前期機器雕琢、後期手工打磨仿真，所以往往穀粒出現“步調一致”的機率比較大，這在穀粒的反光點上可以觀察分別出來。

館藏品穀粒的特徵（圖6-1）：穀粒反光點無規律可尋。

圖6-1

辨賞件穀粒的特徵（圖6-2）：大家都約好在頂端發光，整齊劃一。

圖6-2

再選用反映穀粒特徵詮釋比較清楚的教學圖片，加深理解（圖7）。

圖7-1

圖7-2

（4）谷紋底部下凹特徵

由於砣具減地，使穀粒底部形成一定程度的下凹，似從水窩裡升起來的感覺，穀粒尾巴從窩裡升出“一小片”。仿谷紋往往在已經統一做好的凸粒周圍劃一下，穀粒尾巴僅在平地上劃出“一條線”。

館藏品穀粒底部的特徵（圖8-1）：穀粒從窩裡浮起，尾巴“一小片”。

圖8-1

辨賞件穀粒底部的特徵（圖8-2）：穀粒尾巴懸於四周平地，劃出“一條線”。

圖8-2

再選用反映穀粒底部下凹特徵詮釋比較清楚的教學圖片，加深理解（圖9）。

圖9

再欣賞一幅戰漢谷紋工藝圖（圖10）。

圖10

以上僅舉一例以為說明，不同時期不同地區的谷紋工藝各有特點，不可拘泥於一，但畢竟時代特徵大同小異，可互為參照。